北京2016年10月12日電 /美通社/ -- Analog Devices, Inc.(ADI)全球領先的半導體公司最近推出了三軸MEMS加速度計，能以極低的噪聲執行高分辨率振動測量，可通過無線傳感器網絡實現結構缺陷的早期檢測。最新ADXL354和ADXL355加速度計的低功耗性能可以延長電池壽命，同時通過降低電池更換次數而延長產品壽命。ADXL354和ADXL355的低噪聲加上低功耗性能使得現在能以高性價比實現低電平振動測量應用，比如結構健康監控(SHM)。此外，ADXL354和ADXL355加速度計的傾斜穩定性提供了溫度與時間范圍內的出色可重復性，是采用慣性測量單元(IMU)和傾角計的無人機中方向與導航系統的理想之選。這些最新的加速度計產品可在所有環境下提供可重復的傾斜測量，它們在惡劣環境中無需進行大量校準即可實現最小傾斜誤差。
ADXL354和ADXL355加速度計能以0.15mg/C（最大值）的零失調系數保證溫度穩定性。這種穩定性最大程度地減少了校準和測試相關的資源和成本開銷，幫助設備OEM制造商實現更高的吞吐速率。此外，密封封裝還可確保最終產品出廠很久以后還能符合可重復性與穩定性規范。
ADXL354與ADXL355加速度計的輸出滿量程范圍(FSR)為+/-2g至+/-8g，具有1 Hz至1 kHz可選數字濾波以及25μ/√Hz低噪聲密度，而功耗不足200μA；這些產品以更低的功耗和BOM成本實現了貴得多的器件所具備的性能水平。
