-對OEM而言，新型開關技術不僅有助于開發下一代儀器儀表，同時還能提高通道密度，加快運行速度，延長工作壽命并降低功耗。
北京2016年11月10日電 /美通社/ -- Analog Devices, Inc.(ADI)，今日宣布在開關技術領域取得的重大突破，提供用戶期盼已久的替代產品，以取代100多年前即被電子行業采用的機電繼電器設計。由繼電器導致的多種性能局限早在電報問世之初就已存在，ADI公司全新的RF-MEMS開關技術解決了此類局限，從而能夠開發出更快速、小巧、節能、可靠的儀器儀表。隨著采用該技術的產品正式發布，原始設備制造商(OEM)能夠顯著改進自動測試設備(ATE)以及其他儀器儀表的精確性和多功能性，以幫助客戶降低測試成本和功耗，縮短產品上市時間。未來的MEMS開關系列產品將在航空航天和防務、醫療保健以及通信基礎設施設備等行業內取代繼電器，讓這些行業的OEM能夠為客戶提供體積相似，但功耗和成本更低的產品。
作為全新產品系列的第一代產品，與傳統機電繼電器相比，ADI公司的ADGM1304和ADGM1004 RF MEMS開關的體積縮小了95%，速度加快了30倍，可靠性提高了10倍，而功耗僅為原來的十分之一。
MEMS開關技術提供從0 Hz (DC)到14 GHz的寬帶RF性能
與固態繼電器等其他開關替代產品不同，ADGM1304和ADGM1004 MEMS開關具備出色的精度，并提供從0 Hz (DC)到14 GHz的RF性能。ADI公司的MEMS開關解決方案包含兩個芯片，以最大程度提升運行性能 – 采用密封硅電容中的靜電激活開關，以及低壓低電流驅動器IC。開關元件配備高度適應且極其可靠的金屬對金屬接觸件，通過配套驅動器IC產生的靜電力來激活。共同封裝解決方案確保業界一流的DC精度和RF性能，使開關極為簡單易用。
突破性開關產品提高ATE設備的使用壽命和通道密度
與機電繼電器相比，高度可靠的ADGM1304和ADGM1004可將冷開關生命周期提高10倍，同時延長ATE系統工作壽命，減少由于繼電器故障導致的代價高昂的停機。此外，ADGM1304和ADGM1004 MEMS開關封裝高度極低，設計人員可以在ATE測試板兩側表面貼裝器件，以提高通道密度并降低成本，且不會增加設備體積。與DPDT繼電器設計相比，集成式電荷泵無需外部驅動器，這進一步減小了ATE系統尺寸，而多路復用器配置也可簡化扇出式結構。
